테스트 프로브는 상보적 핵산 서열을 감지하는 데 사용되는 작은 단일 가닥 DNA 또는 RNA 단편(약 20~500bp)입니다.이중 가닥 DNA는 단일 가닥이 되도록 가열에 의해 변성된 다음 방사성 동위원소(보통 인-32), 형광 염료 또는 효소(예: 양고추냉이 과산화효소)로 표지되어 프로브가 됩니다.Phosphorus-32는 일반적으로 DNA를 구성하는 4개의 뉴클레오티드 중 하나의 인산염 그룹에 통합되며 형광 염료와 효소는 핵산 서열에 공유적으로 연결됩니다.
이제 테스트 픽스처에서 테스트 프로브를 매체로 사용하고 프로브를 케이싱에 넣고 프로브 헤드가 테스트 대상에 접촉하고 다른 쪽 끝에 있는 케이싱의 리드 와이어가 신호를 전도하고 수신된 신호가 테스터에 있습니다.예를 들어 저항은 전류 소스를 사용하여 프로브의 전압 강하를 계산하고 커패시터는 정전압 소스를 사용하여 다양한 주파수에서 충전 시간의 기울기를 계산합니다.Probe는 Fixture로 제작되어 지속적으로 사용하는 특성이 있으며 비용이 많이 들지 않습니다.그는 테스트 커뮤니티에서 널리 사용되었습니다.
테스트 프로브 헤드 유형에는 여러 유형이 있습니다.주된 이유는 서로 다른 테스트 포인트에 서로 다른 헤드 유형이 필요하기 때문입니다.예를 들어, 딥 피트는 다중 클로 헤드 유형을 사용하고, 테스트 패드 포인트는 뾰족하거나, 원형 또는 납작한 헤드를 사용하고, IC 핀은 매화를 사용합니다.머리 모양 등은 모두 완성 된 PCB의 부품에 따라 숙련 된 생산 담당자가 선택합니다.
나노미터링은 프로브 재료의 강화일 뿐이며 테스트 고정 장치에는 영향을 미치지 않습니다.관심이 있는 경우 테스트 픽스처에 대한 영향은 AOI 감지와 같은 테스트 장비의 일부여야 합니다.
게시 시간: 2022년 5월 19일