അൾട്രാസോണിക് പ്രോബുകളുടെ വർഗ്ഗീകരണം

1. നേരായ അന്വേഷണം:സിംഗിൾ ക്രിസ്റ്റൽ രേഖാംശ വേവ് നേരായ അന്വേഷണം ഇരട്ട ക്രിസ്റ്റൽ രേഖാംശ വേവ് നേരായ അന്വേഷണം

2. ചരിഞ്ഞ അന്വേഷണം:സിംഗിൾ ക്രിസ്റ്റൽ ഷിയർ വേവ് ചരിഞ്ഞ അന്വേഷണം a1Ⅱ, ഡബിൾ ക്രിസ്റ്റൽ ഷിയർ വേവ് ചരിഞ്ഞ അന്വേഷണം, സിംഗിൾ ക്രിസ്റ്റൽ രേഖാംശ വേവ് ചരിഞ്ഞ അന്വേഷണം aL

a1-ന് സമീപമുള്ള ഇഴയുന്ന തരംഗ അന്വേഷണമാണ് aL;വർക്ക്പീസിന്റെ ഉപരിതലത്തിലൂടെ കൈമാറ്റം ചെയ്യപ്പെടുന്ന രേഖാംശ തരംഗത്തിന് വേഗതയേറിയ വേഗത, വലിയ ഊർജ്ജം, നീണ്ട തരംഗദൈർഘ്യം എന്നിവയുണ്ട്, കൂടാതെ കണ്ടെത്തൽ ആഴം ഉപരിതല തരംഗത്തേക്കാൾ ആഴമുള്ളതാണ്, കൂടാതെ വർക്ക്പീസിന്റെ ഉപരിതല ഫിനിഷ് ഉപരിതല തരംഗത്തേക്കാൾ അയഞ്ഞതാണ്.

3. വക്രതയുള്ള അന്വേഷണം: ചുറ്റളവ് വക്രതയും റേഡിയൽ വക്രതയും.

തടസ്സമില്ലാത്ത സ്റ്റീൽ പൈപ്പുകൾ, രേഖാംശ വെൽഡിഡ് പൈപ്പുകൾ, സിലിണ്ടർ ഫോർജിംഗുകൾ, ഷാഫ്റ്റ് വർക്ക്പീസുകൾ തുടങ്ങിയ അക്ഷീയ വൈകല്യങ്ങൾ കണ്ടെത്തുന്നതിന് ചുറ്റളവിലുള്ള വക്രത അന്വേഷണം അനുയോജ്യമാണ്.വർക്ക്പീസിന്റെ വ്യാസം 2000 മില്ലീമീറ്ററിൽ കുറവാണെങ്കിൽ, ഒരു നല്ല കപ്ലിംഗ് ഉറപ്പാക്കാൻ പ്രോബിന്റെ അച്ചുതണ്ട് വക്രത നിലത്തായിരിക്കണം.

തടസ്സമില്ലാത്ത സ്റ്റീൽ പൈപ്പുകൾ, സ്റ്റീൽ പൈപ്പ് ബട്ട് വെൽഡുകൾ, സിലിണ്ടർ ഫോർജിംഗുകൾ, ഷാഫ്റ്റ് വർക്ക്പീസുകൾ തുടങ്ങിയ റേഡിയൽ വൈകല്യങ്ങൾ കണ്ടെത്തുന്നതിന് റേഡിയൽ വക്രത അന്വേഷണം അനുയോജ്യമാണ്.വർക്ക്പീസിന്റെ വ്യാസം 600 മില്ലീമീറ്ററിൽ കുറവായിരിക്കുമ്പോൾ, ഒരു നല്ല കപ്ലിംഗ് ഉറപ്പാക്കാൻ പ്രോബിന്റെ റേഡിയൽ വക്രത നിലത്തിരിക്കണം.

4. ഫോക്കസ് പ്രോബ്:പോയിന്റ് ഫോക്കസ് ലൈൻ ഫോക്കസ്.

5. ഉപരിതല തരംഗ അന്വേഷണം:(രേഖാംശ തരംഗ ആംഗിൾ രണ്ടാമത്തെ വരാനിരിക്കുന്ന കോണിനേക്കാൾ വലുതോ തുല്യമോ ആയിരിക്കുമ്പോൾ, ഷിയർ വേവ് റിഫ്രാക്ഷൻ ആംഗിൾ ഉപരിതല തരംഗമായി മാറുന്നതിന് 90 ന് തുല്യമാണ്).

വർക്ക്പീസിന്റെ ഉപരിതലത്തിൽ കൈമാറ്റം ചെയ്യപ്പെടുന്ന തിരശ്ചീന തരംഗത്തിന് വേഗത കുറഞ്ഞ വേഗതയും കുറഞ്ഞ ഊർജ്ജവും ചെറിയ തരംഗദൈർഘ്യവുമുണ്ട്.കണ്ടെത്തൽ ആഴം ഇഴയുന്ന തരംഗത്തേക്കാൾ ആഴം കുറഞ്ഞതാണ്, കൂടാതെ വർക്ക്പീസിന്റെ ഉപരിതല ഫിനിഷ് ഇഴയുന്ന തരംഗത്തേക്കാൾ കൂടുതൽ കർശനമാണ്.