प्रचंड कंपनसंख्या असलेल्या (ध्वनिलहरी) प्रोबचे वर्गीकरण

1. सरळ तपासणी:सिंगल क्रिस्टल रेखांशाचा लहरी सरळ प्रोब दुहेरी क्रिस्टल रेखांशाचा लहरी सरळ प्रोब

2. तिरकस तपासणी:सिंगल क्रिस्टल शीअर वेव्ह तिरकस प्रोब a1Ⅱ, डबल क्रिस्टल शीअर वेव्ह तिरकस प्रोब, सिंगल क्रिस्टल रेखांशाचा लहरी तिरकस प्रोब aL

aL ही a1 जवळची क्रीपिंग वेव्ह प्रोब आहे;वर्कपीसच्या पृष्ठभागावर पसरलेल्या रेखांशाच्या लहरीमध्ये वेगवान गती, मोठी ऊर्जा, लांब तरंगलांबी असते आणि शोधण्याची खोली पृष्ठभागाच्या लहरीपेक्षा खोल असते आणि वर्कपीसची पृष्ठभागाची समाप्ती पृष्ठभागाच्या लहरीपेक्षा कमी असते.

3. वक्रता सह तपासणी: परिघीय वक्रता आणि रेडियल वक्रता.

परिघीय वक्रता प्रोब अक्षीय दोष शोधण्यासाठी योग्य आहे जसे की सीमलेस स्टील पाईप्स, रेखांशाच्या वेल्डेड पाईप्स, दंडगोलाकार फोर्जिंग्ज आणि शाफ्ट वर्कपीस.जेव्हा वर्कपीसचा व्यास 2000 मिमी पेक्षा कमी असतो, तेव्हा चांगली जोडणी सुनिश्चित करण्यासाठी प्रोबची अक्षीय वक्रता जमिनीवर असणे आवश्यक आहे.

रेडियल वक्रता प्रोब रेडियल दोष शोधण्यासाठी योग्य आहे जसे की सीमलेस स्टील पाईप्स, स्टील पाईप बट वेल्ड्स, बेलनाकार फोर्जिंग्ज आणि शाफ्ट वर्कपीस.जेव्हा वर्कपीसचा व्यास 600 मिमी पेक्षा कमी असतो, तेव्हा चांगले कपलिंग सुनिश्चित करण्यासाठी प्रोबची रेडियल वक्रता जमिनीवर असणे आवश्यक आहे.

4. फोकस प्रोब:पॉइंट फोकस लाइन फोकस.

5.सर्फेस वेव्ह प्रोब:(जेव्हा अनुदैर्ध्य तरंग घटना कोन दुसऱ्या येऊ घातलेल्या कोनापेक्षा मोठा किंवा समान असतो, तेव्हा कातरणे तरंग अपवर्तन कोन 90 च्या बरोबरीने पृष्ठभागाची लहर तयार होते).

वर्कपीसच्या पृष्ठभागावर प्रसारित होणाऱ्या ट्रान्सव्हर्स वेव्हमध्ये कमी वेग, कमी ऊर्जा आणि लहान तरंगलांबी असते.शोधण्याची खोली रेंगाळणाऱ्या लहरीपेक्षा उथळ असते आणि वर्कपीसची पृष्ठभागाची समाप्ती रेंगाळणाऱ्या लहरीपेक्षा अधिक कडक असते.